• DDR4 Main Memory Interposers

    DDR4 Main Memory Interposers

    Double-data rate fourth-generation (DDR4) main memory technologies are?developed by the Joint Electronic Devices Engineering Council (JEDEC) for use in servers, workstations, and high-performance portable applications?that require deep memory.

  • 8系列采樣示波器

    8系列采樣示波器

    8系列采樣示波器采用創新的分解架構,可以進行高效經濟的光接口組件測試。憑借可重新配置的緊湊型設計、創新的用戶界面和可靠的高端性能,這款產品堪稱制造應用的理想測試解決方案。

  • TravelLogic 4000系列 (邏輯分析儀)

    4000系列邏輯分析儀

    TravelLogic 4000 系列是TL2000/TL3000系列的升級版產品,不管在記憶體記憶深度以及高采樣率下通道數量都有所提升,另外TL4000系列同時具有邏輯分析儀模式 & 協議分析儀模式 兩種不同的信號與協議分析模式。

  • Keithley 4200A-SCS半導體參數分析儀

    Keithley 4200A-SCS半導體參數分析儀

    使用吉時利4200A-SCS參數分析儀(參數測試儀) 加快各類材料、半導體器件和先進工藝的開發,完成制程控制、可靠性分析和故障分析。 4200A-SCS是業內性能領先電學特性半導體參數分析儀,提供同步電流電壓曲線測試(IV曲線測試)、電容電壓曲線測試(CV曲線測試)和超快脈沖IV曲線測量。

深圳市千兆科科技有限公司

我們一直致力于將世界先進的測試技術帶到科技的各個領域。在測試技術這個專業的領域,深圳市千兆科科技有限公司在實踐中積累了大量的測試經驗,一直緊跟科技發展的腳步,致力于將測試技術服務本地化,努力為優秀的工程師們提供優質的技術服務。

解決方案

SOLUTION

數據采集及電源測試

數據采集(DAQ),是指從傳感器和其它待測設備等模擬和數字被測單元中自動采集非電量或者電量信號,送到上位機中進行分析,處理。待機功耗指的是當電子設備在其最低功率模式下運行時所消耗的功率。

半導體及材料測試

半導體材料的突破帶來了一場技術革命,引領了尖端新器件的研發。3DFlash存儲器、人工智能芯片、MEMS/sensor芯片、GaN/SiC功率半導體器件等前所未有的應用推動著半導體產業的發展。

LUCEO壓力眼測試方案

IEEE和OIF要求100G接口要在壓力條件下測試光接收器,VECP、J2、J9需要達到指標。這需對數據信號的確定性抖動DJ、隨機抖動RJ和垂直眼圖閉合進行完整校準。LUCEO的壓力眼測試系統提供基于協會標準的完整校準壓力參數設置。

汽車以太網測試

ADAS、智能安全系統和人機子系統生成在車內傳輸的大量數據。 此外,提高汽車子系統間集成度的要求也推動基礎架構發生變化:從簡單環形網絡變成更復雜的拓撲網絡,包括連接各骨干網絡的網關。

技術專欄

TECHNOLOGY

LPDDR5 主要功能

與 LPDDR4/4X DRAM 相比,LPDDR5 DRAM 支持高達 6400 Mbps 的數據速率和在更低的工作電壓(VDD 的 1.05/0.9V 和 I/O 的 0.5/0.35V)下支持更大的設備尺寸(...

LPDDR5內存詳解

LPDDR5是什么? LPDDR全稱Low Power Double Data Rate,是美國JEDEC固態技術協會面向低功耗內存而制定的通信標準,以低功耗和小體積著稱,專門用于移動式電子產品。簡稱“低功耗內存...

DDR5內存規范和關鍵特性

內存技術也經歷著不斷更新迭代,如今,雙倍數據速率(DDR)同步動態隨機存取存儲器(SDRAM 或直接稱為 DRAM)技術,已成為幾乎所有從高性能企業數據中心到注重功耗/面積的移動應用中的普遍的存儲器。這一切都要歸功...

DDR4 測試的新挑戰 引論

DDR4 在一些服務器和工作站上已經開始使用,DDR4 和前代的 DDR3 相比, 它的速度大幅提升,最高可以達到 3200Mb/s,這樣高速的信號,對信號完整性的要求就更加嚴格,JESD79‐4 規范也對 DDR...

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